美国PHASE II涂层测厚仪

美国PHASE II涂层测厚仪PTG-3550

技术参数：

测量范围 0-1000μm 或0-40Mils

分辨率 0.1μm/0.01mils(0-99μm)或者 1mm(超过100μm)

保证公差 一点校准后=/-1-3%n或者2μm

最小测量面积 5mm*5mm

最小弧面 凸面：0.12"(3mm)凹面：1.2"(30mm)

最小基体厚度 铁基：20mils(0.5mm) 非铁基：2mils(50mm)

校准 零校准/金属薄片校准

被测物体表面最高温度 302华氏度（150华氏度）

外接延长探头