美国LEE涂层测厚仪L170

L170涂镀层测厚仪指标：

　　测量原理：磁性法

　　测量范围：1～1250μm

　　测量准确度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校准）分辨率：1μm工件要求：最小曲率半径（mm）凸5 / 凹 10 ；接触最小面积直径10(mm) ；基体临街厚度（mm） 0.3使用环境：温度 0-40摄氏度； 湿度 20%-75% ； 无磁场环境电源：四节1.5伏AAA电池外形尺寸：112 ×69×28mm重量：82 g(不含电池) 标准配置：主机、标准校准片组、校准铁基体、使用指南、校准片检验报告、手提箱、挂绳及电池等。