X-RAY膜厚检测仪

X-RAY膜厚检测仪采用全新数学计算方法和最新的FP（Fundamental Parameter）、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算。创新的高科技X-射线技术的支持，可对镀层厚度，进行非破坏式的测量，符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量。

X-RAY膜厚检测仪的特征

A：区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多4层及24种元素。

B ：精确度领先于世界，精确到0.025mil

C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求,如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。

D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；

E ：可测量任一测量点，最小可达0.025 x 0.051毫米

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