菲希尔测厚仪

菲希尔测厚仪在质量管理到不良品分析有着广泛的应用.用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器等多个行业. 高性能、高精密、高分辨。实现了快速、精密、准确的X-射线测量仪器，世界首创光学准直器，可以同时测量多至4层的金属镀层的厚度和成分，测量厚度可以从埃（?）至微米（μm）.菲希尔测厚仪也能测量多至24个元素的块状合金成分，其准确度、精密度和稳定性是独一无二的，最适合用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存、半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析等。

菲希尔测厚仪可变焦距控制功能和固定焦距控制功能

计算机系统配置 IBM计算机 惠普或爱普生彩色喷墨打印机

分析应用软件 操作系统：Windows2000中文平台 分析软件包：SmartLink FP软件包

－测厚范围 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。

－基本分析功能 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。

样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)

可检测元素范围：CL17 – U92

菲希尔测厚仪主要应用方面：

由于可测量的元素范围拓阔至从铝至铀，X射线的应用范围从工业应用伸展到科学应用。它可应用于治金学、地质学、鉴证学或自然科学等，在工业方面，广泛用于五金电镀、电子半导体、PCB线路、首饰珠宝、卫浴、汽配的成份分析和镀层测量方面。

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