X射线膜层测厚仪

FISCHER已经累积了超过50年开发及制造卓科技的涂镀层测厚仪、材料分析仪及一般材料测试仪器，享有全球高要求用户的高度评价，FISCHER X射线膜厚仪是科技领先的仪器。

X射线膜层测厚仪采用的WinFTM软件来操作，这样使得仪器更容易操控，及可以在没有使用标准片校正的情况下，可以快速、精确、以至可以在多种样品结构组合下进行测量，可测量合金及多层镀层的厚度，更配备了微焦距的X－RAY管，测量面积会更小一点，适合测量一些更细小的五金件的电镀层厚度，例如：电线、端子外壳，甚至可以快速及容易地测量电镀槽中的金属含量。

X射线膜层测厚仪综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

期待您的来电，金霖电子 吴小姐 手机：13603036715 TEL：0755-29371651 FAX：29371653 公司网址：www.kinglinhk.com 地址：宝安中心区宏发中心大厦