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镀层测厚仪涂层测厚仪膜厚仪MPOR

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更新: 2025-05-20
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公司基本资料信息
 
 
该仪器采用双功能内置式探头,无需更换探头,可自动识别铁基或非铁基体材料,并选择相应的测量方式进行精确测量。

符合人体工程学设计的双显示屏结构,可以在任何测量位置读取测量数据。

采用手机菜单方式快速选择功能。

仪器可设定上下限,测量结果超出或符合上下限数值时,仪器会发出相应的声音或闪烁灯提示。

仪器通常不必校正便可进行测量。

量 程:0~2000μm。

精 度:±1μm(0~50μm);±2%(50μm~1000μm);±3%(1000μm~2000μm)。

重复精度: ±0.5μm(0~100μm); ±0.5%(>100μm)。

最小测量曲率直径:在精度范围内,铁基φ35mm,非铁基φ50mm;

(在允许误差<10%时,铁基为φ10mm,非铁基为φ2mm)。

最小测量面积直径:φ4mm(在允许误差<10%时,为φ2mm)。

最小基体厚度:铁基0.2mm(误差<10%时);非铁基0.09mm(误差<10%时)。

重 量:60g(不含电池)。

外形尺寸:64mm×30m×85mm。

电 源:两节5号电池。

主机一台;铁、铝基体各一块;标准片一片;手提仪器盒;操作手册;出厂合格证。


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