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美国KIC炉温跟踪仪涂装温度记录仪

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所在地: 广东 深圳市
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最后更新: 2012-06-02 18:15
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产品详细说明
美国KIC2000涂装线测温/高温炉测温仪/隧道炉测温仪/电镀五金高温

温度曲线测试仪SlimKIC 2000

特点:

•简化温度曲线测试步骤

通过自动化的过程来简化复杂的工艺制程设置工作,SlimKIC 2000使得温度曲线测试变得异常简单,任何操作员都可以快速取得最佳工艺制程。只需从包含百种常用焊锡膏供应商的温度曲线规范自动定义制程窗口。色码信号会在不符合时向操作员发出警报。

•加快温度曲线的测试过程

SlimKIC 2000采用创新技术(已申请专利),可消除用传统方法来测量温度曲线时需要执行的繁琐任务。回流焊炉各区域以及加热偶对产品的测量均实现自动化。可即时确认工艺制程曲线的可接受性,减少所需温度曲线测试次数,并最大极限地减少生产停机时间。

•温度曲线测试更精确

SlimKIC 2000可将工艺制程简化为一个数字——Process Window IndexTM(PWI),这样您就能精确地了解温度曲线的完善程度。简化后的用户界面能引导操作员完成整个温度曲线测试过程,最大限度地减少错误的回流焊炉的温度设定和影响产量的各种缺陷。

• 温度曲线测试更轻松

即使是最复杂的产品和要求,SlimKIC 2000也能使制程设定毫不费力,包括无铅规定所造成的狭隘工艺制程窗口。消除温度曲线测试过程中无铅过渡带来的麻烦,同时提高产品质量和可靠性。

• 简化为单个数值来表示温度曲线的符合规范量

为了精确评定温度曲线性能,SlimKIC 2000采用了工艺制程窗口指数(PWI),PWI能参照制程规范计算出制定温度曲线对可用工艺制程窗口的使用要求程度。因此,PWI越低,制程工艺的效果越好,也更稳定!

•KIC 2000炉温测试仪



※ KIC2000 9通道/12通道

※ 可进行8个点和11个点的PCB表面器件温度测量

※ 快速、准确的提供温度测试结果

※ 及时反映PWI(Process Windows Index)制程窗口指数

※ 提供Navigator与Auto Focus自动模拟功能,智能优化(Profile)炉温曲线设定



技术参数



测量精度

±1.2℃



解析度

0.3~0.1℃



内部操作温度

0~105℃



可测量温度范围

-150~1050℃



热电偶兼容性

K 型、9 或12 TCs



电源要求

9V 碱性电池



PC要求

个人电脑



无线接收器频率(选项)

433.92 MHz



隔热套规格

3.2mm与6.4mm两种厚度规格



应用范围



KIC炉温测试系统适用于任何运行状态稳定的回流焊炉、波峰焊炉以及烘烤箱等需要进行温度监控的加热装置







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