PCB绝缘劣化试验测试

从当今的地球市场环境来看，省能源铅/无卤素小型轻量低价格高信赖等观点出发的，

新素材新实装方法的研究开发评价方法的重估是必须的。

J-RAS公司把握市场的需要，为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的，

新时代离子迁移实验装置 ECM-100系列。

简介：离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流

电压（BIAS VOLTAGE）,经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的

现象发生（ION MIGRATION）,并记录阻抗变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ION MIGRATION TESTING）

适用规格：JPCA-ET01-2001

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