手提式X荧光测厚仪

名称： 手提式X荧光测厚仪

型号： HMX系统

厂家： 美国Matrix Metrologies公司

特点：

无损

单、双、三层镀层的厚度测量



无论体积多大的电镀件，HMX系统是理想的解决办法

对于QC、电镀线以及实验室分析等应用的现场测量

现场的样品分析

基材管理的合金分类以及合金确认

独特的"分组测量"模式，允许计算一组部件的平均厚度



软件

基础参数分析（非标准和标准）：点测的关键应用"point-and-measure" Batch Measurement批量测量法功能允许对许多小部分同时进行非接触测量。

快速ID合金分析： 与合金级别和化学成分匹配的光谱信号； 库存编辑和合金识别能力；

基础参数分析(FP): 这个组合包括21种元素： 钛，铬，锰，铁，钴，镍，铜，锌，锆，铌，钼，铪，钽，铼，铅，银，锡，铋，锑等。（注意：总共可以安装25元素；还有附属的元素包括：镉，金，铂，钯，硒。）

技术数据

电源： 可充电锂离子电池；含2块电池及充电器；AC转换器及多电池电源可选购。

X射线发生器： 银或钨靶微型X射线管；10-40kV，10-50微安

测量尺寸： 接触样品表面测量时，7.75 mm

X射线探测管： Si-PIN高分辨率探测系统

尺 寸: 长度：30cm；高度：23cm；宽度：7.5cm

重 量: 基体配置1.2kg；1.6kg带电池

参数调整: 不锈钢316作为参考标准