x荧光光谱仪

UX-300

分析原理：能量色散X射线荧光分析法

分析元素：Na ～U任意元素

检出下限(Cd/Pd)：Cd/Pb/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm

样品形状：任意大小，任意不规则形状

样品类型：塑胶/金属/薄膜/粉末/液体

X射线管：靶材/Mo 管电压/5～50 kV 管电流/最大1～1000 μA

照射直径：2、5、8mm自动转换

探测器：Si(PIN)半导体高分辨率探测器

滤光片：八种新型滤光片自动选择

样品定位：微动载物平台（选配）

样品观察：30倍彩色CCD摄像机

微区分析：X光聚焦微区分析系统（选配）

软件

定量分析：α系数法 WINDOWS XP

数据处理：主机/戴尔／方正PC机/内存/256 MB 以上/硬盘/40 GB 以上　系统：Windows XP正版

工作环境：温度 10～35 ℃ 湿度 30～70%R H

電源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz

功率：1.1kW

重量：40Kg

外形尺寸：610(W)×750(D)×500(H)mm