行业分类
PCB绝缘劣化试验测试
日期:2017-02-15 10:24  点击:75
 
 
价格:1.00/套
品牌:日本J-RAS
起订:1套
供应:1000套
发货:90天内
 可对离子迁移绝缘电阻值进行高精度高信赖性高效率的评价。

从当今的地球市场环境来看,省能源/无卤素小型轻量低价格高信赖等观点出发的,

新素材新实装方法的研究开发评价方法的重估是必须的。

J-RAS公司把握市场的需要,为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的,

新时代离子迁移实验装置 ECM-100系列

 

简介离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流

电压(BIAS VOLTAGE),经过长时间的测试(11000小时)并观察线路是否有瞬间短路的

现象发生(ION MIGRATION),并记录阻抗变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是OPEN/SHORT试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。(ION MIGRATION TESTING)

适用规格JPCA-ET01-2001

深圳市世纪天源仪器有限公司    

涂美兰 13570829212 

电话:0755-23155856    传真:0755-23155853

邮箱:tumeilan@szskyan.com

网址:http://www.szskyan.com

地址:深圳市龙华新区民治街道皇嘉梅陇公馆A1613(梅林关维也纳酒店旁)

联系方式
公司:深圳市世纪天源仪器有限公司
发信:点此发送
姓名:涂美兰(女士)
电话:0755-23155856
手机:13570829212
传真:0755-23155853
地址:民治街道皇嘉梅陇公馆A1613
邮编:518109
邮件:tumeilan@szskyan.com
QQ:1664423240
关于网站  |  普通版  |  触屏版  |  网页版
08/17 16:07
首页 刷新 顶部