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美国UPAβ射线无损测厚仪

＊依照标准ASTM B567，ISO/DOS 3543和DIN 50 983的准则

＊应用在测量许多经典结构的镀层厚度，包括镍上镀金（Au/Ni）,环氧树脂镀铜（Cu/epoxy），光致抗蚀剂(photoresist)，铜上镀银（Ag/Cu），科瓦铁钴镍合金上镀锡(Sn/kovar)，铁上镀氮化钛(Ti-N/Fe)，锡铅合金(Sn-Pb)。

＊ Micro-Derm MP-900可以利用霍尔效应技术测量铜上镀镍（Ni/Cu）的厚度。.

＊探头系统可以用于精确测量各种样品表面，从小零件（连接器和端子）到大零件（印制线路板）。